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所屬分類: | 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀 |
報 價: | 市場價: |
Trimos TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀 ,系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,測量速度快,對震動不敏感,真正的實現(xiàn)三維形貌納米級測量。
TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀
TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀,系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,測量速度快,對震動不敏感,真正的實現(xiàn)三維形貌納米級測量。模塊化的設(shè)計理念,可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測量系統(tǒng),傳感器直接更換,方便快捷,極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍。即可用于計量單位和材料科學(xué)研發(fā)實驗室,也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。
3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀主要特點:
◆ 非接觸式測量原理,無損化檢測粗糙度,微觀形貌
◆ *的數(shù)字全息三維顯微技術(shù),真正實現(xiàn)3D微觀形貌測量
◆ 創(chuàng)新的成像原理,從原理上保證了對外界振動不敏感,Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動定位,測量速度快
◆ 模塊化的設(shè)計概念,多種光學(xué)光路原理,直接更換傳感器,不需要調(diào)整,方便快捷
◆ 可非標定制相應(yīng)的測量頭,滿足不同客戶的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實現(xiàn)高精密表面測量,也可選用色譜共焦技術(shù)實現(xiàn)微觀輪廓測量或選用接觸式探針實 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念,測量過程全 自動,操作簡單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件,功能強大,即可實現(xiàn)2D輪廓測量,也可進行3D形貌分析
◆ 可進行編程批量檢測并自動生成分析報告
◆ *兼容2D標準,并已內(nèi)置即將制定的3D標準
軟件特點:
TRIMOS NanoWare軟件,擁有的評價標準程序來實時更新標準測量符合以下標準:ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等),法國標準NF,制造標準CNOMO,ASME (B46.1) 和DIN標準;三維表面特征數(shù)據(jù)標準ISO 25178系列同樣有效。
TRIMOS® NanoWare LT特點:
用于二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊。操作簡便,包含用于表面檢查,分析形貌,粗糙度和波紋度測量的重要功能。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra、Rq、Rt、線性材料曲率
◆ 過濾方式、水平、放大
◆ 所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及 符合ISO 25178表面分析
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)
◆ 表面圖形仿真
◆ 距離, 高度及角度測量
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器
◆ zui終結(jié)果管理
◆ 測量點管理/再采集
◆ 輪廓提取, 體積測量
TRIMOS® NanoWare PRO:
2D及3D表面特征評估zui完整版本。此模塊綜合了表面測量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗。
◆ 市場上zui高性能的軟件
◆ 表面圖層研究
◆ 3D形貌鑒定
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計分析及研究
可選測頭:
TR-Scan 3D光學(xué)輪廓粗糙度儀應(yīng)用示例: